WKK：X|aminer 高性能X射线检测系统

2011-05-04

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X|aminer在上海NEPCON展会上，在其代理商王氏港建中国有限公司的展台上，展示高性能X射线检测系统，展位号：1D01。

X|aminer是具有亚微米级高分辨率X射线检测系统，最适用于半导体封装和线路板组装等电子行业领域产品的内部缺陷检测和失效分析。标配超高性能的开放式亚微米级160kV X射线管，细节分辨力达到1μm，高分辨率的两百万像素数字成像链、最大几何放大倍率可达2100倍，可对410mm×410mm的被测区域进行最大倾斜70°，旋转360°任意范围内的视角进行检测。（SMTC Shirley编辑）