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锡迁移失效分析

2025-10-23


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案例背景

某产品工作2-5个月出现不工作的情况(驱动器不良),大部分集中同一生产批次,其他批次也有类似现象。热风筒200℃加热后有部分产品会恢复正常工作,热风筒300℃加热后挖开驱动芯片周围的灌封环氧树脂胶后产品恢复正常工作。

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分析过程

电性能测试

 

对样品进行电性能测试,发现6pin(SPEED)对地呈现异常短路状态,该引脚功能描述为电机电转速设定输入,支持PWM输入或模拟调速。

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X-RAY检测

 

对驱动芯片进行X-RAY检测,发现样品6pin与芯片接地焊盘间存在异常,表现为其间隙内存在枝状沉积物。

 

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CT测试

 

对驱动芯片做CT测试,确认该枝状沉积物造成6pin与芯片接地焊盘异常连接。

 

#平面图示

 

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#3D图示

 

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平面研磨分析

 

依据X-RAY及CT测试结果,对样品进行平面研磨,研磨至异常连接处后观察其分布状态,疑似为Sn迁移。

 

#整体图示

 

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#放大图示

 

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EDS成分分析

 

对该枝状沉积物EDS成分分析,确认其主要成分为Sn。

 

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分析过程

结合上述现象,确认产品驱动芯片不良原因为6pin与接地焊盘间存在Sn迁移现象,造成引脚与接地焊盘短接,最终导致不良。

腾昕检测.

第三方检验检测机构,有着优秀的工程师团队,配备了一系列高、精、尖检测仪器和设备,主要为PCB&PCBA、汽车电子、电子元器件及相关电子产品在失效分析、可靠性评价、元器件真伪鉴别与认证及技术咨询等方面提供专业的技术服务。

 

 

【本文转自公众号腾昕检测,转载仅供学习交流。】

 



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