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NEPCON:CyberOptics最新AOI和SPI系统

2012-07-17

CyberOptics公司将在NEPCON华南展上展出一系列最新的AOI和SPI系统,该展会将于2012年8月28-30日在深圳会展中心举行。CyberOptics还将同时推介全能SPI/AOI编程、AOI-SPI相关分析和打印机闭环反馈功能等独特的增值方案。

QX100™通过在线检测系统的全面性能和桌面系统的灵活性完美结合,重新定义了桌面检测功能。该系统采用CyberOptics的独特图像采集技术&"&"选通检测模块Strobed Inspection Module(SIM),能够检测最小至01005的元件。

QX100™除了外形线条流畅,更以AI2(自动图像判读)&"&" 新一代专利图像分析技术为基础,实现了卓越的缺陷探测能力、最低误判率和缺陷识别清晰度的改善。借助AI2技术,编程变得更快&"&"所须的在范例减少达90%,同时,亦变得更为简单&"&"可完全支持无人监督的半自动化型号培训。简单快捷的程序编程使QX100™成为高混合环境的理想之选。QX100的程序也完全与在线式系统兼容。

在SPI方面,CyberOptics将采用其最新型三维SPI系统&"&"SE500ULTRA™,其设计配置全新的超快传感器,为SPI检测速度确立了新基准。结合CyberOptics独特 一体化 扫描算法的传感器使SE500ULTRA™的速度比其原先的SPI系统提高了30%,同时对测量精度和重复性没有任何影响。它也融合双重照明传感器方案,从而再进一步改善机器检测功能的重复性和再现性。

在展会上,观众亦可内部预览QX600™系统&"&"CyberOptics继大获好评的QX500™推出的新一代在线式AOI创新产品。QX600™的设计采用照明能力进一步提高的选通检测模块Strobed Inspection Module(SIM),其照明系统使用LED灯光和更高分辨率(12µm),从而改善焊点和金手指检测,同时亦显著降低反射和阴影效应。这使QX600™系统在高速潜能不受任何影响的情况下,能始终如一地提供卓越检测能力和最低误判率。

此外,CyberOptics还将展出原型版QX100i™系统&"&"旨在提供高性价比检测解决方案的初级在线式AOI系统。

CyberOptics团队将在NEPCON华南展恭候各位观众莅临第1H18号展位。

更多信息,请访问:www.cyberoptics.com。


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