SEICA 将参展4月23日至25日在上海世博展览馆举行的NEPCON China 2013，展示当前业界最新的飞针测试技术Pilot V8，SEICA展位号1H70。

Pilot V8 代表了当今飞针测试领域的最新技术，它提供最优性能的测试解决方案。高性能的测试速度、测试覆盖率、灵活性可以满足测试样板、大批量板亦或各类型维修板的各种测试需求。拥有8个移动的电性测试探针（前后各4个）的立式结构紧凑的Pilot V8可施加16个可移动的测试资源应用在被测板上。它倍增的探针数目可以实现两块被测板并行测试，相对于4针测试系统它有效的提高了测试能力。移动的电源探针是另一项重要的革新技术，无须额外的固定探针和线缆就可以对被测板上电执行功能测试。Pilot V8 配有Flyscan, 这是边界扫描和飞针测试的真正的集成。