2013年4月23日，安捷伦科技的x1149 边界扫描分析仪，荣膺SMT China远见奖检查测试－ICT类大奖，颁奖典礼在NEPCON China展会现场举行。

边界扫描已经成为工程师们在应对日益增加的测试接入挑战时必不可少的技术。x1149 边界扫描分析仪是一款功能广泛、使用方便的电路板测试工具，能够帮助用户进行电路板设计和验证，以及在生产过程中重复进行相同的 x1149 测试。

该分析仪提供了直观的操作界面，您只需点击一下鼠标便可在屏幕上轻松浏览所有信息。关键特性包括：

• 覆盖扩展技术和硅钉能力。

• 直接使用STAPL标准文件用于CPLD/FPGA的烧录。

• 扫描路径链接器（Scan Path Linker）可将多条链路连接到一条链路上。

• 完全兼容的器件支持 IEEE 1149.1 和 IEEE 1149.6 标准。

安捷伦测量系统事业部总经理 Boon Khim Tan 表示： 在 iNEMI 调查中，90% 的受访者认为内置自测（BIST）功能是产品测试的关键；而 60%的电路板设计人员表示自己需要使用 BIST 对电路板的性能进行验证。BIST 的接入方法主要是通过边界扫描进行接入。

x1149 边界扫描分析仪是安捷伦为满足业界更多 BIST 需求而特别设计的。我们持续致力于为客户提供最佳的投资回报，x1149 就是证明。它是一款多功能的仪器，可在从设计和验证到批量生产的整个产品开发过程中使用。所有仪器均具有相同的测试可过渡移植性、可靠性和稳定性，这是安捷伦解决方案的标志性优势。