德国韦尔泰姆，2016年2月：atg Luther Maelzer在其飞针测试仪生产线上增加了用于基板测试的双侧飞针系统。S3-8 10µm基板测试仪是atg Luther Maelzer去年启动的新产品线（引入了单侧S3）的最新型号。通过应用atg Luther Maelzer先进的飞针技术，单侧S3和双侧S3-8都能满足高端基板测试极具挑战性的要求，比如：定位精度和大量接触点。

基板用于连接半导体和印刷电路板。常见的测试面板由50到100个单基板组成，尺寸在250 x 80mm左右。每个基板有1000到2000个测试点，需要大约100000个垫片相互接触从而实现100%的连续性和隔离测试。在半导体侧测试基板，最小为10µm的结构需要接触良好。

要应对这样的挑战，S3-8采用了八个可自由移动的测试头，实现了每秒100欧姆两点测量的测试速率。另外，对于基于电容的测试，测试系统可以安装真空台。
在电气测试之前，测试样品的光学对齐使得成品的收缩和偏移与测试数据关联并自动调节。两个5兆像素、分辨率为1.2µm的彩色摄像头确保定位精度在+/-1.5µ的范围内。S3系统与接触压力可设定为0.3到2.5g的微型针一起运行，确保在不损坏接触垫片的情况下得到最好的测试结果和重复性。S3-8基板测试仪的最大测试面积为350 x 310mm（13.8 x 12.2 ）。

Xcerra PCB测试集团的副总裁Jochen Kleinertz说到： 现有测试系统大多是单侧的，因此不能进行100%的欧姆连续性测试。但是越来越多的客户需要这样的测试。atg Luther Maelzer在双侧测试系统领域的专业性以及独特的多头技术使得实现出色的精度、速度和生产力成为可能。

我们期待这样的高生产能力即使在高测试点计数下也能够通过飞针测试系统实现基板的双侧测试。这样我们的客户便能够在高端基板上采用过去没有的新测试方法。 (SMTC@ACT)