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ECT ZIP™ Z0射频半导体测试弹簧探针超出客户预期

2016-03-21

2016年3月:Everett charles Technologies(ECT)成功获得了ZIP 探针在中国客户(大型SOAT)之大批量生产环境的评估机会,结果证实,采用了HyperCore™ 材料制作的ZIP探针射频半导体测试弹簧探针的效果已超出客户预期。Z0探针的最多插入次数达到了45万次,比竞争对手的弹簧探针使用寿命长两倍以上,同时还超出了直通率预期。

ZIP是ECT提供的众多半导体测试探针产品系列之一。为了此次评估,特将ZIP Z0-040RHJ探针部署在适用14L、0.4mm间距QFN封装的多站点测试装置中。应用场景为射频收发器,测试温度为室温以及高温 (85°C) ,测试高度为1.5mm。Z0成为了需要低插入损耗 (40GHz@-1dB)以及低电感 (0.55nH)的射频设备的理想之选。

ECT享得专利的ZIP探针采用了多种创新设计,具有出色的接触性能。ZIP探针内部接触面积较大,由此接触阻抗较低、带宽出色且导电性优良。ZIP探针采用HyperCore™制作而成,因而具有更高级别的精确度、可伸缩性和性能。专有的非电镀均匀探针材料具有防氧化性,确保在大批量生产周期中实现最佳性能。凭借600努普的硬度等级,ZIP抗磨性能优,能有效接触坚硬的DUT表面并可经受磨洗。

高级产品经理Tony DeRosa解释说: 客户不断要求降低每次插入的成本。ECT的ZIP™探针通过具有竞争力的价格、高可靠性和出色的电气性能为客户带来价值,从而满足这一要求。我们的射频仿真和验证能力让人确信Z0将满足甚至超出主要射频测试要求,这进一步扩大了测试成本优势。 (SMTC@ACT编辑)


艾福尔查理测试机械公司(ECT)简介:

ECT(总部位于加利福尼亚州丰塔纳)是全球领先的POGO"接触探针制造商,其产品应用范围包括工业、医疗、军事、接头以及空电路板和加载印制电路板的测试。研发项目致力于解决未来十年内影响接触解决方案的工程和材料问题。公司不断审视维持微型探针电气连接、改善弹簧技术和探头形状的方法。ECT的POGO"接触件通过美国、欧洲和亚洲的分销处在全球范围内销售。Xcerra™公司是ECT的母公司,为半导体、工业和电子等制造行业提供固定设备、接口产品和服务。Xcerra公司拥有全面的解决方案和技术组合,以及战略部署应用和支持资源的全球网络。欲了解更多信息,请访问www.ectinfo.com和www.Xcerra.com。


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