在线AXI 技术简介
Introduction to Inline AXI Technology　
Ondrej Simecek，Test Research 公司

自十九世纪末发现X 光以来，无损检测技术已成为检查不透明物体内部结构的重要工具。在X 光检查的众多应用中，到目前为止，最普通的应用是简单的透射成像，或拍摄X 光照片，用这种检查可以从不同角度观察被检查对象内部结构的阴影图像。

对电子器件进行X光检查时，被检查对象中的各个元件吸收的X光不一样，在X光探测器上形成阴影图像。不同材料吸收X光的能力不一样，这使我们能够区分被检查对象中的实体物体。由比较重的原子构成的物体，例如金属，密度较大，吸收入射X光的大部分光，形成清晰的阴影图像。被吸收的X光的数量还取决于阻挡X光的物体的厚度，这样，根据被检查对象的X光阴影，可以确定它的物理结构。

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本文刊登在《表面组装技术》（SMT China）杂志2014年12/2015年1月刊，完整阅读网址：

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