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锡迁移失效分析

2026-02-02

  案例背景

  某产品工作2-5个月出现不工作的情况(驱动器不良),大部分集中同一生产批次,其他批次也有类似现象。热风筒200℃加热后有部分产品会恢复正常工作,热风筒300℃加热后挖开驱动芯片周围的灌封环氧树脂胶后产品恢复正常工作。

  

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  分析过程

  1电性能测试

  对样品进行电性能测试,发现6pin(SPEED)对地呈现异常短路状态,该引脚功能描述为电机电转速设定输入,支持PWM输入或模拟调速。

  

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  2 X-RAY检测

  对驱动芯片进行X-RAY检测,发现样品6pin与芯片接地焊盘间存在异常,表现为其间隙内存在枝状沉积物。

  

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  3 CT测试

  对驱动芯片做CT测试,确认该枝状沉积物造成6pin与芯片接地焊盘异常连接。

  #平面图示

  

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  #3D图示

  

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  4 平面研磨分析

  依据X-RAY及CT测试结果,对样品进行平面研磨,研磨至异常连接处后观察其分布状态,疑似为Sn迁移。

  #整体图示

  

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  #放大图示

  

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  5 EDS成分分析

  对该枝状沉积物EDS成分分析,确认其主要成分为Sn。

  

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  分析过程

  结合上述现象,确认产品驱动芯片不良原因为6pin与接地焊盘间存在Sn迁移现象,造成引脚与接地焊盘短接,最终导致不良。

  【本文转自公众号腾昕检测,转载仅供学习交流。】


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