锡迁移失效分析
案例背景
某产品工作2-5个月出现不工作的情况(驱动器不良),大部分集中同一生产批次,其他批次也有类似现象。热风筒200℃加热后有部分产品会恢复正常工作,热风筒300℃加热后挖开驱动芯片周围的灌封环氧树脂胶后产品恢复正常工作。

分析过程
1电性能测试
对样品进行电性能测试,发现6pin(SPEED)对地呈现异常短路状态,该引脚功能描述为电机电转速设定输入,支持PWM输入或模拟调速。

2 X-RAY检测
对驱动芯片进行X-RAY检测,发现样品6pin与芯片接地焊盘间存在异常,表现为其间隙内存在枝状沉积物。

3 CT测试
对驱动芯片做CT测试,确认该枝状沉积物造成6pin与芯片接地焊盘异常连接。
#平面图示

#3D图示

4 平面研磨分析
依据X-RAY及CT测试结果,对样品进行平面研磨,研磨至异常连接处后观察其分布状态,疑似为Sn迁移。
#整体图示

#放大图示

5 EDS成分分析
对该枝状沉积物EDS成分分析,确认其主要成分为Sn。


分析过程
结合上述现象,确认产品驱动芯片不良原因为6pin与接地焊盘间存在Sn迁移现象,造成引脚与接地焊盘短接,最终导致不良。
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