为了适应后续新机型更加苛刻的内部空间和更高效数据传输的要求，苹果正积极全面加速LCP/FPC 在后续iPhone、Macbook、Watch 中的渗透，进而为5G 时代天线技术升级进行预演。在2017 年iPhone X 和两款iPhone 8 的基础上，未来新机型上天线（WiFi、NFC、蓝牙等）部分也有望做成LCP/FCP 的形式，催生全球FPC赛道，全球软板市场持续扩容。

NEPCON China 2018 （第二十八届中国国际电子生产设备暨微电子工业展）将携手是德、德律、泰瑞达、SPEA SPA、SEICA、ITOCHU、精泰达等众多ICT、FCT、飞针测试设备参展，集中展示革新设备和解决方案。

其中，是德科技提供完整的在线测试（ICT）和功能测试(FCT)解决方案系列，帮助电子制造商在产品生命周期的不同阶段选择更适合的测试策略，设计和制造更复杂的印刷电路板组件。

是德科技的技术专家将展示诸多解决方案，包括PathWave Analytics电子制造智能数据分析解决方案、Keysight In-Line 4 模块在线测试系统（E9986E）i367x 系列、Keysight i1000D Inline 在线测试系统、Keysight x1149 台式边界扫描分析仪。为ICT FCT 飞针测试行业带来福音。支持工业 4.0 的 PathWave Analytics&"&"是德科技电子制造智能数据分析解决方案，它应用先进算法对元数据、测量数据和环境数据进行深入分析，以便预测机器故障，并推动改善产品质量，同时提高产品出货量。

• 支持大尺寸电路板测试的 Keysight In-Line 4 模块在线测试系统（E9986E）i367x 系列，它是 i3070 系列 5i Inline 在线测试系统的最新成员，可以便捷地整合到任意全自动生产线中。它能够灵活地测试各种尺寸的电路板，还可以通过扩展支持所需数量的节点。
  
• 外形小巧、低成本的 Keysight i1000D Inline 在线测试系统，与市场上同类产品相比，需要的生产线空间较小。该系统配备自动化轨道，可对智能手机、LED 以及元器件间隙较大的汽车电路板等产品进行自动化测试。
  
• 功能丰富的Keysight x1149 台式边界扫描分析仪，可实现快速的测试周转时间，适用于从设计和验证到新产品投产和批量制造的广泛应用。我们会安排x1149 的现场演示，展示内容将包括在初始设计、测试直至生产运行各阶段全程使用 DFT 和节省测试点技术。与会者还可以了解 x1149 上的新网络许可功能的使用技巧，从而更好地管理和利用 x 1149 许可证。(SMTC@ACT)