SMT 染色(Dye strain)失效分析BGA不良的5个案例

2024-10-21

文章来源:SMT工程师之家

一、染色(Dye strain)失效分析实例一

1、机种: M71IX MB;2、现象:RD反馈,针对该片之ATI BGA Chip(U33)进行破坏性分 析,以进一步了解该零件在焊接制程上是否有异常。 3、S/N: 11S13M8297ZJ1YK95BP1V6;

  

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4、采用染色分析法并比对零件端断面及Pad端断面染色结果:焊接正常,未发现锡裂及气泡等不良现象;

  

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5、进一步以BGA Mapper软件分析:主要焊接断面类型属于Typer3,4 & 5,占整体比例 90.5%,未发现锡裂,因此该零件之焊接属于良好之焊接.

  

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二、染色(Dye strain)失效分析实例二

1、客人反馈KS-Note(05320-SB)此产品发现落摔测试失败;2、当接收到此测试板之后经客人同意采用BGA染色 分析法进行分析;3、S/N: 55.4B501.D0G5340004AMOSE;4、不良现象: 产品落摔实验后产品功能测试失败;5、初步分析: EE & PE初步分析判定U51,U55,U61 no work;

  

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6、采用染色分析法并比对零件端断面及Pad端断面染色结果:分析结果是发现异常;

  

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7、采用染色分析法并比对零件端断面及Pad端断面染色结果

  

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8、采用染色分析法并比对零件端断面及Pad端断面染色结果

   

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9、根据上述之染色分析结果可以得到其结论如下:1)U51未发生有焊接异常及锡裂现象;2)U55于BGA角落发生锡裂现象;3)U61于BGA角落发生锡裂现象;4)发现锡裂的现象皆属于Type4(PAD与锡球之间);

  

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三、染色(Dye strain)失效分析实例三

1、机种: Yuhina 3 MB   2、原因:U27 F/T no work   3、检测位置 : U27  4、SN: 55.40I01.01142100864KD1H

  

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5、BGA角落2发生锡裂现象属于Type4(焊垫与锡球之间发现 染液渗透)& Type5(焊垫底材染液渗透)

  

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6、分析结果: U27角落2的位置发现锡裂现象 其锡裂现象属于Type4(焊垫与锡球之 间发现染液渗透)& Type5(焊垫底材染 液渗透);7、可能原因: 由于U27角落2的位置附近有一锁附之 螺丝铜柱, 可能在组装过程遭遇过大的 应力影响, 造成U27角落2发生锡裂;8、对策: 反应此问题给ME, 请求其改善螺丝锁附 治具及确认电动起子之锁附磅力设定;

  

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四、染色(Dye strain)失效分析实例四

1、机种: M71IXA MB „ 2、检测位置 : U7, U18, U25 & U16 „ 3、目的: PR产品之BGA焊锡性验证4、验证之产品生产日期: 10/16

  

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5、采用染色分析法并比对零件端断面及Pad端断面染色结果

  

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6、分析结论 

• U7, U18, U25, U16 发生严重的void不良现象; 

• 由于此次生产为使用5 zones的SMT回焊炉,为了解 决此一问题,将针对reflow thermal profile设定部分 进行改善; 

I. 针对reflow thermal profile之soaking time及reflow time进行 最佳化调整; 

II.更改成7 zones的回焊炉进行生产,以利item I之对策执行;

7、改善结果:采用染色分析法并比对零件端断面及Pad端断面染色结果:BGA内部void比例有效控制在25%以下

  

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8、改善结论:

1). 藉由SMT thermal profile的调整确实可以有效 的改善BGA内部焊接的void现象;2). 改善重点: i. 延长thermal profile中的soaking time设定;ii. 缩短reflow time的设定;3). 藉由SMT thermal profile的调整确实可以有效的 改善BGA内部焊接的void现象;4. 相关BGA内部焊接的void%皆控制在25%以下;

五、染色(Dye strain)失效分析实例五

1、误判 ‧ 开始分析时务必将试片以气枪将试片表 面完整清洁;‧ 当发现异常时须比对其试片之相对面, 确认是否有相同之染色痕迹;

  

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以上为SMT BGA染色分析的几个案例探讨,欢迎大家共同讨论!


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